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便攜式現(xiàn)場PID測試儀(電位誘發(fā)衰減)測試儀,適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件,無需拆裝,測試時間在8小時之內(nèi)(測量時間將少于8小時)。PIDcheck是與德國Fraunhofer CSP Halle合作開發(fā)的。
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